变频抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并算出被测试品电容容值（CX）和介质损耗（tgδ）。

数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、、可靠。

变频抗干扰介质损耗测试仪仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的，用户可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法"进行测量时，可将“E"点接地；而当采用“反接法"进行测量时，可将“UH"点接地，而将E点浮空。