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变频抗干扰介质损耗测试仪技术指标及工作原理
点击次数:1257 更新时间:2016-06-08
 

变频抗干扰介质损耗测试仪技术指标:

准确度:Cx:±(读数×1%+1pF) tgδ:±(读数×1%+0.00040) 抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度 电容量范围:内施高压:3pF~60000pF/10kV60pF~1μF/0.5kV 外施高压:3pF~1.5μF/10kV60pF~30μF/0.5kV 分辨率:zui高0.001pF,4位有效数字 tgδ范围:不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。 试验电流范围:10μA~1A 内施高压:设定电压范围:0.5~10kV zui大输出电流:200mA 升降压方式:连续平滑调节 试验频率:45、50、55、60、65Hz单频 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频 频率精度:±0.01Hz 外施高压:正接线时zui大试验电流1A,工频或变频40-70Hz 反接线时zui大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A CVT变比测量: 变比测量精度:±读数×1%变比测量范围:10~99999 相位测量精度:±0.1°相位测量范围:0~359.9° 测量时间:约40s,与测量方式有关 输入电源:180V~270VAC,50Hz±1%,市电或发电机供电 计算机接口:标准RS232接口 打印机:炜煌A7热敏微型打印机 环境温度:-10℃~50℃ 相对湿度:<90% 外形尺寸:460×360×350mm 仪器重量:28kg

变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理:

在交流电压作用下,电介质要消耗部分电能,这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时,电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ,Ψ的余角δ称为介质损耗角,δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx),标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成,被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等,再由单片机运用数字化实时采集方法,通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。

仪器内部已经采用了抗干扰措施,保证在外电场干扰下准确测量。

测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。

控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。

变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,zui大无功输出2KVA/1分钟。

标准电容器:内Cn,测量基准。

Cn电流检测:用于检测内标准电容器电流,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

Cx正接线电流检测:只用于正接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

Cx反接线电流检测:只用于反接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器,将反接线电流信号送到低压侧。隔离电压20KV。

 
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