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介质损耗测试仪变频测量有干扰怎么办?
点击次数:580 更新时间:2022-02-15
 
  介质损耗测试仪采用自动变频在干扰频率50Hz两侧(45Hz和55Hz)各测一个点,然后推算50Hz频率下数据。除多个元件电路的低频谐振外,单个试品中的介质不可能在低频引起能量吸收峰,工频附近介损总是随频率单调变化的,因此这种测量方法不会带来明显误差。
 
  实际上,平均前的两个介损值已十分接近,即使不平均也*有参考价值。目前,变频介损仪已成为介损测量的常规仪器,其优异的抗力和准确度已经得到认可。
 
  介损有RC串联和并联两种理想模型:串联模型tgδ=2πfRC,并联模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分别随频率f成正比和反比。f对*正比和*反比两种模型影响较大。但实际电容器是多种模型交织的混合模型,此时f的影响就小。
 
  介质损耗测试仪变频测量时:
 
  干扰十分严重时,变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时,测量系统只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制,原因在于测量系统很容易区别不同频率,由下述简单计算可以说明选频测量的效果:
 
  两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起,高频的是干扰,幅度为低频的10倍:
 
  Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
 
  在x=0/90/180/270°得到4个测量值
 
  Y0=12.4517,Y1=-11.1017,Y2=12.2075,Y3=-13.5576,
 
  计算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,则:
 
  φ=tg-1(B/A)=5.678°V=A2+B2/2=1.234
 
  这刚好是低频部分的相位和幅度,干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万,计算量很大,结果反映了波形的整体特征。
 
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